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/ NetNews Usenet Archive 1993 #3 / NN_1993_3.iso / spool / comp / lsi / testing / 476 < prev    next >
Encoding:
Text File  |  1993-01-22  |  1.4 KB  |  42 lines
  1. Newsgroups: comp.lsi.testing
  2. Path: sparky!uunet!cs.utexas.edu!sun-barr!ames!pacbell.com!charon.amdahl.com!netcomsv!netcom.com!obnoid
  3. From: obnoid@netcom.com (Michael Kirschner)
  4. Subject: Re: IDDQ Testing?
  5. Message-ID: <1993Jan22.160047.21804@netcom.com>
  6. Organization: Netcom - Online Communication Services  (408 241-9760 guest) 
  7. X-Newsreader: TIN [version 1.1 PL6]
  8. References: <13968@optilink.COM>
  9. Date: Fri, 22 Jan 1993 16:00:47 GMT
  10. Lines: 30
  11.  
  12. Terry Manley (manley@optilink.COM) wrote:
  13. : In article <1993Jan19.231338.29821@newsgate.sps.mot.com> saari@chdasic.sps.mot.com writes:
  14. : 
  15. : >IDDQ testing is also necessary for the latent defects and catching faults in
  16. : >redundant logic...
  17. : 
  18. : I'm unfamiliar with the term IDDQ testing. Would someone simply state the
  19. : method of this test and it history?
  20.  
  21. Iddq is the the current drawn from Vdd while the device is in a static, or
  22. "quiescent" state, hence "Iddq". It's only useful, to my knowledge, for
  23. CMOS devices which are designed such that there are no intended resistive
  24. paths from Vdd to ground while in some known state, e.g. immediately after
  25. reset, with clock, if there is any, at a DC level.
  26.  
  27. : 
  28. : Thanks,
  29. : 
  30. : dave
  31. : manley@optilink.com
  32.  
  33. Mike
  34.  
  35. -- 
  36. ----------------
  37. Michael Kirschner
  38. 2224 Larkin St.                                 (415)292-3674 (voice)
  39. San Francisco, CA 94109    Preferred E-Mail address: obnoid@netcom.COM
  40. [GEnie: M.KIRSCHNER1; well: obnoid]
  41.  
  42.