home *** CD-ROM | disk | FTP | other *** search
/ NetNews Usenet Archive 1993 #3 / NN_1993_3.iso / spool / comp / lsi / testing / 475 < prev    next >
Encoding:
Internet Message Format  |  1993-01-22  |  1.5 KB
  1. Xref: sparky comp.lsi.testing:475 comp.lsi:794 comp.lsi.cad:1329
  2. Path: sparky!uunet!spool.mu.edu!yale.edu!ira.uka.de!uka!i80s20!gerald
  3. From: gerald@i80s20.ira.uka.de (Gerald M. Spiegel)
  4. Newsgroups: comp.lsi.testing,comp.lsi,comp.lsi.cad
  5. Subject: IC Defect Statistics
  6. Date: 22 Jan 1993 14:41:43 GMT
  7. Organization: University of Karlsruhe, FRG
  8. Lines: 29
  9. Distribution: world
  10. Message-ID: <1jp137INN2gj@iraul1.ira.uka.de>
  11. NNTP-Posting-Host: i80s20.ira.uka.de
  12.  
  13. Anyone who deals with product quality and yield 
  14. of integrated circuits probably has the same problem:
  15. Where can I get realistic data about defect densities
  16. and defect size distributions concerning a certain
  17. manufacturing process? Well, so do I.
  18.  
  19. For my opinion, we should stick together and share 
  20. the little information we have.
  21. So here is my call: Please email ANY information 
  22. you have about defect statistics, if you think it
  23. might be usable. 
  24. No, you are not asked to let out any internal 
  25. company affairs, because the information shall 
  26. be summarized and posted.
  27.  
  28. Any help is greatly appreciated.
  29.  
  30. Gerald M. Spiegel
  31.  
  32. --------------------------------------------------------------------
  33. UNIVERSITY of KARLSRUHE (Germany)         
  34. Department of Computer Science            
  35. Institute of Computer Design 
  36. and Fault Tolerance                       Phone (+49) (721) 608 4227
  37. P.O. Box 69 80                            FAX   (+49) (721) 370  455  
  38. W-7500 Karlsruhe 1                        email: gerald@ira.uka.de 
  39. --------------------------------------------------------------------
  40.  
  41.  
  42.