home *** CD-ROM | disk | FTP | other *** search
/ NetNews Usenet Archive 1993 #3 / NN_1993_3.iso / spool / comp / lsi / testing / 471 < prev    next >
Encoding:
Text File  |  1993-01-21  |  3.1 KB  |  75 lines
  1. Newsgroups: comp.lsi.testing
  2. Path: sparky!uunet!zaphod.mps.ohio-state.edu!saimiri.primate.wisc.edu!doug.cae.wisc.edu!umn.edu!csus.edu!netcom.com!obnoid
  3. From: obnoid@netcom.com (Michael Kirschner)
  4. Subject: Re: IDDQ testing, how reliable is it?
  5. Message-ID: <1993Jan21.205119.13960@netcom.com>
  6. Organization: Netcom - Online Communication Services  (408 241-9760 guest) 
  7. X-Newsreader: TIN [version 1.1 PL6]
  8. References: <BJORN.B.LARSEN.93Jan20114904@engels.delab.sintef.no>
  9. Date: Thu, 21 Jan 1993 20:51:19 GMT
  10. Lines: 63
  11.  
  12. Bjorn B. Larsen (Bjorn.B.Larsen@delab.sintef.no) wrote:
  13. : 
  14. : Please forgive my, possibly, dumb question, but I really feel that
  15. : IDDQ testing maybe is not the next step in production testing. (If we
  16. : want something to replace testing for Stuck-At faults.)
  17. : 
  18. : [lines deleted]
  19. :
  20. : This leads me to 2 questions which I hope somebody out there in
  21. : netland may cae to comment on:
  22. : 
  23. :     1.    If a standard chip is specified to have Iddq = 150 mA,
  24. :         all tested chips (>> 100) show Iddq < 10 mA, and one
  25. :         chip shows Iddq = 125 mA. Would you accept the single
  26. :         125mA case? Is it likely to fail earlier than the ones
  27. :         with Iddq < 10 mA? What could be a reason for this
  28. :         atypical behaviour (though it is within spec)? (All
  29. :         chips are exposed to the same test.)
  30. : 
  31.  
  32. If the spec is so far out of line with reality, then the spec should be
  33. reconsidered. Simple data collection, as you indicate in this question,
  34. indicates a single outlyer many sigma outside the normal distribution
  35. (the unit with Iddq=125mA). Failure analysis of this device vs. one of 
  36. the units from the normal distribution would, I'd expect, indicate a
  37. problem with it of some sort (maybe not a functional problem, but maybe
  38. leaky transistors or something like that). After functional verification 
  39. (and maybe some non-standard tests like speed grading this part vs "known
  40. good" parts, and measurement of Iddq at low and high temperatures) I'd
  41. be tempted to pop the lid on the device, as well as a good unit, and look at 
  42. both of them under an emission microscope. With a bit of luck that would be
  43. somewhat likely to isolate the location(s) of the leakage. From there,
  44. stripback and SEM to identify the cause (if possible, or if interesting).
  45.  
  46. :     2.    What level would you require to measure on an Iddq test
  47. :         to claim that a chip has failed. (Spec says 150 mA)
  48.  
  49. I would take the distribution of data from several sample devices from
  50. several lots over a period of time (depending on how many lots you run and
  51. how stable your process is...), calculate the mean and std. deviation, then
  52. set the limit at the mean + (some number, either 3 or 6)*std. deviation. I'd
  53. then continue to monitor it. In a static CMOS circuit with no intended "ON"
  54. transistors, Iddq should measure well under a milliamp, provided the devices
  55. is in a known state.
  56.  
  57. : 
  58. : Thank you for your time.
  59.  
  60. You're welcome. Hope that helps.
  61.  
  62. : 
  63. : Bjorn
  64. : --
  65.  
  66. Mike
  67.  
  68. -- 
  69. ----------------
  70. Michael Kirschner
  71. 2224 Larkin St.                                 (415)292-3674 (voice)
  72. San Francisco, CA 94109    Preferred E-Mail address: obnoid@netcom.COM
  73. [GEnie: M.KIRSCHNER1; well: obnoid]
  74.  
  75.