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/ NetNews Usenet Archive 1993 #3 / NN_1993_3.iso / spool / comp / lsi / testing / 469 < prev    next >
Encoding:
Text File  |  1993-01-21  |  1.3 KB  |  29 lines
  1. Newsgroups: comp.lsi.testing
  2. Path: sparky!uunet!paladin.american.edu!gatech!concert!unccsun.uncc.edu!ws130!makki
  3. From: makki@uncc.edu (Rafic Z Makki)
  4. Subject: Re: IDDQ testing, how reliable is it?
  5. Message-ID: <C17o4r.7o8@unccsun.uncc.edu>
  6. Sender: usenet@unccsun.uncc.edu
  7. Nntp-Posting-Host: ws130.uncc.edu
  8. Reply-To: makki@uncc.edu
  9. Organization: University of NC at Charlotte
  10. References: <BJORN.B.LARSEN.93Jan20114904@engels.delab.sintef.no>
  11. Date: Thu, 21 Jan 1993 15:53:14 GMT
  12. Lines: 15
  13.  
  14. Bjorn, the points that you make are indeed valid. However, it is still
  15. early to disgard IDDQ for a number of reasons. First, a number of researchers
  16. such as Maly and Hawkins have shown IDDQ to be effective when used as an additional screen
  17. and a good way to augment stuck-at and functional testing. Second, one cannot look at
  18. any one test method in isolation for all levels of the maufacturing process from
  19. die level to chip level to card level. There are many different test activities and, if used
  20. properly, IDDQ can be effective in helping to assure higher quality levels. Finally, 
  21. IDDQ is still far from being a mature test method and much research remains to be done
  22. in areas such as designing current-testable circuits, combining IDDQ with boundary scan, etc...
  23.  
  24. Bjorn, thanks for your comments. I enjoyed thinking about the questions that you posed.
  25.  
  26.  
  27.  
  28. -Rafic Makki
  29.