home *** CD-ROM | disk | FTP | other *** search
/ NetNews Usenet Archive 1992 #31 / NN_1992_31.iso / spool / sci / material / 1034 < prev    next >
Encoding:
Internet Message Format  |  1992-12-22  |  887 b 
  1. Path: sparky!uunet!spool.mu.edu!tulane!uflorida!elm.circa.ufl.edu!sushilb
  2. From: sushilb@elm.circa.ufl.edu (Sushil Bharatan)
  3. Newsgroups: sci.materials
  4. Subject: TEM samples
  5. Keywords: sapphire,TEM
  6. Message-ID: <38005@uflorida.cis.ufl.edu>
  7. Date: 22 Dec 92 18:46:12 GMT
  8. Sender: news@uflorida.cis.ufl.edu
  9. Distribution: usa
  10. Organization: University of Florida, Gainesville
  11. Lines: 16
  12. Nntp-Posting-Host: elm.circa.ufl.edu
  13.  
  14. I require information on preparation of cross-sectional TEM samples
  15. of a semi-conductor material deposited on 0001 sapphire substrate.
  16. I am currently using a dicing saw for cutting strips that are about
  17. 15 mils in width, but extensive cracking and chipping occur.
  18. Any information on dicing saw blade manufacturers and alternative
  19. methods is welcome.
  20.  
  21. Thanks,
  22. Sushil Bharatan
  23. Dept. of Materials Science and Engineering,
  24. University of Florida.
  25.  
  26. email:sushilb@elm.circa.ufl
  27.  
  28.  
  29.  
  30.