M∞°enΘ nap∞tφ se usm∞r≥uje diodov²m zdvojovacφm detektorem s diodami
D81 a D82. Zßvislost v²stupnφho stejnosm∞rnΘho nap∞tφ na vysokofrekvenΦnφm
nap∞tφ je vlivem k°ivosti voltampΘrov²ch charakteristik diod nelineßrnφ,
tak₧e p°i p°φmΘm p°ipojenφ m∞°idla by byl zaΦßtek stupnice stlaΦen². Necht∞l
jsem p°ekreslovat stupnici, proto₧e jedno malΘ m∞°idlo v p°φstroji slou₧φ
k vφce ·Φel∙m a vφce stupnic by bylo nep°ehledn²ch. P°i rozebφrßnφ m∞°idla
takΘ hrozφ poÜkozenφ jemnΘho m∞°φcφho ·strojφ nebo jeho zneΦiÜt∞nφ prachem.
Proto jsem za usm∞r≥ovaΦ zapojil zesilovaΦ s nelineßrnφ p°evodnφ charakteristikou
zak°ivenou opaΦn∞, ne₧ je charakteristika detektoru. V zßpornΘ zp∞tnΘ vazb∞
operaΦnφho zesilovaΦe je zapojena dioda D85 stejnΘho typu, jako je v detektoru.
P°i vhodnΘ volb∞ odpor∙ se pr∙b∞h vyrovnal tak, ₧e odchylka v ₧ßdnΘm
mφst∞ stupnice nep°esahovala 10% z rozsahu. Pro odstran∞nφ zb²vajφcφch
nelinearit byla na odboΦku vstupnφho odporu invertujφcφho zesilovaΦe
p°ipojena druhß dioda D84. Experimentßln∞ jsem naÜel polohu odboΦky a vybral
diodu tak, aby odchylka nep°esßhla 5%. Pro hrubß m∞°enφ to staΦφ, p°i p°esnΘm
m∞°enφ ·daj opravφm podle kalibraΦnφ k°ivky. Na v²stupu je zapojeno ruΦkovΘ
m∞°idlo MP40, 200 uA.
Cel² nelineßrnφ zesilovaΦ je umφst∞n ve vnit°nφ sk°φ≥ce vf dφlu nedaleko
od usm∞r≥ovaΦe s diodami D81 a D82. Dioda D85 mß proto tΘm∞° stejnou teplotu
jako detekΦnφ diody D81 a D82 a vliv teploty na charakteristiky diod se
tak ΦßsteΦn∞ kompenzuje. Zv∞tÜφ-li se s poklesem teploty odpor diod D81
a D82, nap∞tφ na vstupu zesilovaΦe se zmenÜφ, ale zv∞tÜφ se i odpor diody
D85, kterß je v zßpornΘ zp∞tnΘ vazb∞, tak₧e zesφlenφ zesilovaΦe se zv∞tÜφ
a odchylka se vyrovnß.